УЗЛЫ И ПРИСПОСОБЛЕНИЯ ДЛЯ МИКРОСКОПОВ, РЕФЛЕКТОМЕТРОВ, МИКРОСПЕКТРОФОТОМЕТРОВ И ЭЛЛИПСОМЕТРОВ



Нагревательный стол
  • Размеры: диаметр 6" (150 мм);
  • Материал: черный анодированный алюминий;
  • Материал корпуса: нержавеющая сталь;
  • Температура контролируется цифровым термостатом;
  • Точность: 1% заданного значения;
  • Температура и заданные значения показываются на цифровом дисплее. Подъем температуры: 31 программа, 126 сегментов;
  • Диапазон темрератур: от комнатной до 329Со;
  • Размеры и температурный диапазон могут устанавливаться по требованию заказчика.
Жидкостная кювета Жидкостная кювета может быть изготовлена для Ваших конкретных применений. Показанный здесь образец предназначен для угла падения света 70о, впереди окно для наблюдения.
Цифровая камера Вы можете вставить эту камеру в тубус окуляра или в тубус для фотоаппарата Вашего микроскопа любой модели, превратив Ваш обычный оптический микроскоп в цифровой. Это бюджетная опция позволяет получать на Вашем лабораторном оборудовании превосходные изображения для профессиональных презентаций.
Оптическая приставка С помощью этой приставки Вы можете превратить Ваш обычный микроскоп в продвинутый микроспектрофотометр. Вы сможете наблюдать, выделять и записывать спектры отражения, пропускания и/или поглощения с малого участка образца, а также замерять толщину пленки.
  • Опция 1. Только оптические компоненты.
  • Опция 2. Устройство цифровой обработки изображений и программное обеспечение DIAS2.0.
  • Опция 3. Спектрометр.
  • Опция 4. Программное обеспечение TFProbe для сбора и анализа данных.
  • Опция 5. Цифровой микроскоп.
  • Опция 6. Любая комбинация вышеперечисленных опций.
Приставка для измерения пропускания и поглощения TFProbe рефлектометр предназначен для измерения отражения. С этой приставкой Вы сможете использовать рефлектометр для измерения пропускания и поглощения с тем же источником излучения и спектрометром.
Эталон для измерений отражения Для измерения отражения необходим эталон. Мы поставляем два типа эталонов - стеклянный и полупроводниковый. Размеры каждого эталона варьируются и могут быть заказаны в соответствии с конкретным рефлектометром и областью применения. С эталоном поставляются точные оптические константы (N и K) для широкого диапазона длин волн.
Эталоны толщин пленок Мы поставляем недорогие эталоны толщин тонких пленок с различными номинальными значениями толщины от 300 Å до 2 µм. Эталоны представляют собой термически выращенную на кремниевых подложках диаметром от 2" до 12" пленку двуокиси кремния. Толщина пленки и ее показатель преломления точно определены методом спектроскопической эллипсометрии для диапазона длин волн. Мы прилагаем подробный сертифицированный перечень значений параметров для любого эталона. Свяжитесь с нами для получения более детальной информации.
Программа Dias 2.0 Программа Digital Image Analysis Software Version 2.0 (DIAS 2.0) - 24 - битная программа обработки цветных микроскопических изображений, разработанная на основе многолетнего опыта работы в области цифровой обработки и анализа изображений. DIAS 2.0 предлагает большой набор инструментов для обработки изображения и измерений и позволяет решить все типы подобных задач. Простая в освоении и имеющая дружественный интерфейс программа позволит Вам уверенно достичь Ваших целей в научных исследованиях.
Предметный стол тип 1
  • Изготовлен из черного анодированного алюминиевого сплава;
  • Простой механизм регулировки по высоте;
  • Предназначен для подложек диаметром 200 мм, имеет маркеры для подложек других диаметров;
  • UV-Vis или Vis ахроматическая оптическая сборка.
Предметный стол тип 2
  • Изготовлен из черного анодированного алюминиевого сплава;
  • Предназначен для подложек диаметром 125 мм, имеет маркеры для подложек других диаметров.
Приспособление Larger Spot
  • Измерительный пучок размером до 50 мм;
  • UV-Vis или Vis оптическая сборка;
  • SMA905 оптический ввод;.
  • Предназначен для измерений толщины пленки на больших участках поверхности структурированной подложки;
  • Может применяться для in-line мониторинга процесса CMP.
Приспособление для криволинейных поверхностей
  • Используется для измерения толщины пленки, осажденной на криволинейных поверхностях;
  • Легкая регулировка расстояния между поверхностью образца и измерительным зондом;
  • Применяется для стекол и очков.



VECOR 101 Duranzo Aisle, Irvine, CA92606, USA
Phone: +1-949-394-4466 * Fax: +1-949-451-6813 * E-mail: info@vecorus.com